互换性与技术测量 第二版（关于互换性与技术测量 第二版的简介）

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1、《互换性与技术测量（第二版）》是一本华中科技大学出版社出版的图书，作者是楼应侯、卢桂萍、蒋亚南，本书共分9章，内容包括绪论、孔与轴的尺寸极限与配合、测量技术基础、几何公差及检测、表面粗糙度及其检测、光滑极限量规、尺寸链基础、零件典型表面的公差配合与检测、渐开线圆柱齿轮精度及检测。

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