X射线形貌学（关于X射线形貌学的简介）

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1、根据晶体中衍射衬度变化和消像规律。

2、来检查晶体材料及器件表面和内部微观结构缺陷的一种方法。

3、广泛用于晶体材料完整性的研究。

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